检测激光打标的一个样品。使用CR-100V白光干涉仪进行检测。检测的刻痕的立体形貌更加富有真实感。

被测样品

表面干涉条纹

生成报告

      CR-100V白光干涉仪，对被测样品表面的三维轮廓信息具有高精度的检测特点，采用光学干涉原理，非接触检测。适合于表面形貌比较复杂的产品的检测。

      工作室长期以来一直致力于光学干涉检测技术的研究。光学干涉检测具有精度高，非接触的特点，在高端制造领域应用前景广泛。

       CR-100V是本工作室即将推出的第一款光机电算全套化的仪器。另有CR-100光机结合的白光干涉仪，可以通过人为对图像的分析来检测样品，适合于表面面型的一般检测。这两款仪器均采用我们自己开发的干涉镜头，在成像质量，以及干涉稳定性上不亚于国外同类产品。目前专利申请正在进行中。

       CR-100，CR-100V白光干涉仪将会于2018年4月份左右发布成套化样机。感兴趣的可以关注我们的公众号。